SN74BCT8374ANT
- Artikelnummer:
- SN74BCT8374ANT
- Hersteller:
- TI
- Beschreibung:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- RoHS-Status:
- Bleifrei / RoHS-konform
- Menge auf Lager:
- 31234 Pieces
- Lieferzeit:
- 1-2 days (We have stocks to ship now)
- Produktionszeit:
- 4-8 weeks
- Datenblatt:
- SN74BCT8374ANT.pdf
Einführung
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Spezifikation
| Interne Teilenummer | RO-SN74BCT8374ANT |
|---|---|
| Bedingung | Original New |
| Herkunftsland | Contact us |
| Top-Markierung | email us |
| Ersatz | See datasheet |
| Versorgungsspannung: | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Supplier Device-Gehäuse: | 24-PDIP |
| Serie: | 74BCT |
| Verpackung: | Tube |
| Verpackung / Gehäuse: | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Betriebstemperatur: | 0°C ~ 70°C |
| Anzahl der Bits: | 8 |
| Befestigungsart: | Through Hole |
| Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Logiktyp: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Bleifreier Status / RoHS-Status: | Lead free / RoHS Compliant |
| detaillierte Beschreibung: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP |
| Basisteilenummer: | 74BCT8374 |
| Email: | [email protected] |
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