SN74ABTH182646APM
- Artikelnummer:
- SN74ABTH182646APM
- Hersteller:
- TI
- Beschreibung:
- IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
- RoHS-Status:
- Bleifrei / RoHS-konform
- Menge auf Lager:
- 33682 Pieces
- Lieferzeit:
- 1-2 days (We have stocks to ship now)
- Produktionszeit:
- 4-8 weeks
- Datenblatt:
- SN74ABTH182646APM.pdf
Einführung
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Spezifikation
| Interne Teilenummer | RO-SN74ABTH182646APM |
|---|---|
| Bedingung | Original New |
| Herkunftsland | Contact us |
| Top-Markierung | email us |
| Ersatz | See datasheet |
| Versorgungsspannung: | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Supplier Device-Gehäuse: | 64-LQFP (10x10) |
| Serie: | 74ABTH |
| Verpackung: | Tray |
| Verpackung / Gehäuse: | 64-LQFP |
| Andere Namen: | 296-4133 74ABTH182646APMG4 74ABTH182646APMG4-ND |
| Betriebstemperatur: | -40°C ~ 85°C |
| Anzahl der Bits: | 18 |
| Befestigungsart: | Surface Mount |
| Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Hersteller Standard Vorlaufzeit: | 6 Weeks |
| Logiktyp: | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Bleifreier Status / RoHS-Status: | Lead free / RoHS Compliant |
| detaillierte Beschreibung: | Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10) |
| Basisteilenummer: | 74ABTH182646 |
| Email: | [email protected] |
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