SN74LVTH182512DGGR
Modelo do Produto:
SN74LVTH182512DGGR
Fabricante:
TI
Descrição:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Status de RoHS:
Sem chumbo / acordo com RoHS
Quantidade em estoque:
82914 Pieces
Tempo de entrega:
1-2 days (We have stocks to ship now)
Tempo de produção:
4-8 weeks
Ficha de dados:
SN74LVTH182512DGGR.pdf

Introdução

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Especificações

Número de peça interno RO-SN74LVTH182512DGGR
Condição Original New
País de origem Contact us
Marcação superior email us
Substituição See datasheet
Tensão de alimentação:2.7 V ~ 3.6 V
Embalagem do dispositivo fornecedor:64-TSSOP
Série:74LVTH
Embalagem:Tape & Reel (TR)
Caixa / Gabinete:64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Outros nomes:296-8698-2
74LVTH182512DGGRE4
74LVTH182512DGGRE4-ND
74LVTH182512DGGRG4
74LVTH182512DGGRG4-ND
Temperatura de operação:-40°C ~ 85°C
Número de bits:18
Tipo de montagem:Surface Mount
Nível de sensibilidade à umidade (MSL):1 (Unlimited)
Tempo de entrega padrão do fabricante:6 Weeks
Tipo de lógica:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Status sem chumbo / status de RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Descrição detalhada:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP
Número da peça base:74LVTH182512
Email:[email protected]

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