SN74BCT8373ANT
Modelo do Produto:
SN74BCT8373ANT
Fabricante:
TI
Descrição:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Status de RoHS:
Sem chumbo / acordo com RoHS
Quantidade em estoque:
63319 Pieces
Tempo de entrega:
1-2 days (We have stocks to ship now)
Tempo de produção:
4-8 weeks
Ficha de dados:
SN74BCT8373ANT.pdf

Introdução

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Especificações

Número de peça interno RO-SN74BCT8373ANT
Condição Original New
País de origem Contact us
Marcação superior email us
Substituição See datasheet
Tensão de alimentação:4.5 V ~ 5.5 V
Embalagem do dispositivo fornecedor:24-PDIP
Série:74BCT
Embalagem:Tube
Caixa / Gabinete:24-DIP (0.300", 7.62mm)
Outros nomes:296-33848-5
SN74BCT8373ANT-ND
SN74BCT8373ANTE4
SN74BCT8373ANTE4-ND
Temperatura de operação:0°C ~ 70°C
Número de bits:8
Tipo de montagem:Through Hole
Nível de sensibilidade à umidade (MSL):1 (Unlimited)
Tipo de lógica:Scan Test Device with D-Type Latches
Status sem chumbo / status de RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Descrição detalhada:Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-PDIP
Número da peça base:74BCT8373
Email:[email protected]

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