10 listopada 2020 - Firma ON Semiconductor (NASDAQ: ON), która promuje innowacje w zakresie wysokiej efektywności energetycznej, wprowadziła na rynek technologię fotopowielacza krzemowego (SiPM).Lidar z pojedynczym punktem czasu przelotu (dToF)Program.

Wykrywanie i określanie odległości światła lubLidarZastosowania rozwijają się we wszystkich obszarach, w tym w robotyce i przemysłowym wykrywaniu zbliżeniowym, które wymagają dokładności rzędu milimetra. Zwykle opiera się na metodzie dToF, która mierzy czas potrzebny na podróż impulsu świetlnego do i od obiektu, zwykle w zakresie długości fal bliskiej podczerwieni (NIR).

Chociaż zasada jest prosta, jej zastosowanie może wiązać się z wyzwaniami, takimi jak czynniki środowiskowe, takie jak silne światło słoneczne. Aby dokładnie określić zasięg, odbiornik musi wychwycić jak najwięcej sygnału. Jeśli chodzi o czas odpowiedzi i czułość, to wpłynie to na tradycyjne fotodiody. Krzemowy fotopowielacz (SiPM) opracowany przez ON Semiconductor eliminuje te niedociągnięcia, zapewniając krótszy czas odpowiedzi i wysoką skuteczność wykrywania. Ta platforma referencyjna wykorzystuje czujnik SiPM drugiej generacji firmy ON SemiconductorSeria RB, Zapewnia wyższą wydajność w zakresie czerwonym i NIR.

Opracowany przez ON SemiconductorPlatforma SiPM dToF LidarZapewnij kompletne rozwiązanie dla tanich, jednopunktowych lidarów, producenci oryginalnego sprzętu (OEM) mogą elastycznie dostosowywać i wprowadzać do produkcji w celu tworzenia zastosowań przemysłowych. Obejmuje diody laserowe NIR, czujniki SiPM i optykę, a także cyfrowe przetwarzanie wymagane do konwersji wykrytego sygnału na upływający czas i przekształcenia upływającego czasu na odległość.

Aby przyspieszyć czas wprowadzenia klientów na rynek, ON Semiconductor zapewnia wszystkie dane projektowe platformy referencyjnej, w tym schematy, zestawienia komponentów (BoM), pliki gerber i pliki projektów PCB. Klienci mogą również uzyskać dostęp do graficznego interfejsu użytkownika (GUI) na komputerze PC, który przedstawia wykresy wyników pomiarów w czasie. Wygenerowany histogram dodatkowo potwierdza zdolność systemu do stosowania w aplikacjach określania odległości, wykrywania kolizji i mapowania 3D.

Wiren Perera, dyrektor IoT w ON Semiconductor, powiedział: „Korzystanie z lidara dToF do rangowania zaspokaja krytyczne potrzeby wielu aplikacji, od autonomicznej nawigacji po mapowanie i monitorowanie. Jednak opracowanie systemu opartego na lidarze dToF może być trudne. Ta platforma naszej firmy wyraźnie dowodzi skuteczności tej wiodącej technologii. Dzięki sprawdzonej konstrukcji klienci mogą szybko przeprowadzić weryfikację koncepcji i szybko wprowadzić produkty na rynek ”.

Platforma lidar SiPM dToF może wykrywać obiekty w odległości od 10 cm do 23 metrów. Skorzystaj z dostarczonego interfejsu GUI, aby zapewnić gotowe do użycia doświadczenie, tak aby inżynierowie mogli natychmiast rozpocząć ocenę technologii. Konstrukcja została certyfikowana przez Amerykańską Agencję ds.Żywności i Leków (FDA) i jest zgodna z normami bezpieczeństwa lasera IEC / EN 60825-1: 2014 i 21 CFR 1040.10 / 1040.11.