10. listopadu 2020 - ON Semiconductor (NASDAQ: ON), který podporuje vysoce účinné inovace, uvedl na trh technologii křemíkové fotonásobiče (SiPM) společnosti.Jednobodový přímý čas letu (dToF) lidarProgram.

Detekce a rozsah světla neboLidarAplikace rostou ve všech oblastech, včetně robotiky a průmyslového snímání blízkosti, které vyžadují přesnost na milimetr. Obvykle je založen na metodě dToF, která měří čas potřebný k tomu, aby světelný puls cestoval do az objektu, obvykle v rozsahu vlnových délek blízké infračervené oblasti (NIR).

Ačkoli je princip jednoduchý, jeho aplikace může přinést problémy, jako jsou faktory prostředí, jako je silné sluneční světlo. Aby bylo možné přesně určit rozsah, musí přijímač zachytit co nejvíce signálu. Z hlediska doby odezvy a citlivosti budou v tomto ohledu ovlivněny tradiční fotodiody. Senzor křemíkového fotonásobiče (SiPM) vyvinutý společností ON Semiconductor překonává tyto nedostatky poskytováním rychlejší doby odezvy a vysoké účinnosti detekce. Tato referenční platforma využívá snímač SiPM druhé generace ON SemiconductorŘada RB, Přináší vyšší výkon v rozsahu červené a NIR.

Vyvinuto společností ON SemiconductorSiPM dToF Lidar platformaPoskytují kompletní řešení pro nízkonákladový jednobodový lidar, výrobci originálního vybavení (OEM) se mohou flexibilně přizpůsobovat a uvádět do výroby a vytvářet průmyslové aplikace. Zahrnuje laserové diody NIR, snímače SiPM a optiku, stejně jako digitální zpracování potřebné k převodu detekovaného signálu na uplynulý čas a převedení uplynulého času na vzdálenost.

Pro urychlení doby uvedení na trh zákazníkům poskytuje ON Semiconductor všechna konstrukční data referenční platformy, včetně schémat, kusovníku (BoM), souborů Gerber a návrhových souborů PCB. Zákazníci mají také přístup k grafickému uživatelskému rozhraní (GUI) založenému na počítači, které poskytuje grafy výsledků měření v čase. Generovaný histogram dále dokazuje schopnost systému v aplikacích zaměřujících se na rozsah, detekci kolizí a 3D mapování.

Wiren Perera, ředitelka IoT ve společnosti ON Semiconductor, uvedla: „Používání dToF lidaru k měření rozsahu uspokojuje kritické potřeby mnoha aplikací, od autonomní navigace přes mapování až po monitorování. Vývoj systému založeného na lidar dToF však může být náročný. Tato platforma naší společnosti jasně dokazuje účinnost této špičkové technologie. Díky osvědčenému designu mohou zákazníci rychle prokázat koncept a rychle uvést produkty na trh. “

Platforma lidar SiPM dToF dokáže detekovat objekty ve vzdálenosti 10 cm až 23 metrů. Pomocí poskytnutého grafického uživatelského rozhraní získáte okamžitý zážitek, aby inženýři mohli začít technologii okamžitě vyhodnocovat. Design byl certifikován americkým Úřadem pro kontrolu potravin a léčiv (FDA) a splňuje bezpečnostní normy laseru IEC / EN 60825-1: 2014 a 21 CFR 1040.10 / 1040.11.