Türk dili
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Nederland Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Svenska Ελλάδα Български език✕
Hakkımızda | Bizimle iletişime geçin | Bir teklif isteği |
Ev > Ürünler > Tümleşik Devreler (IC'ler) > Gömülü - Sistem On Chip (SoC) > A2F500M3G-1FG484
A2F500M3G-1FG484
A2F500M3G-1FG484
Parça Numarası:
A2F500M3G-1FG484
Üretici firma:
Microsemi
Açıklama:
IC FPGA 500K GATES 512KB 484-BGA
RoHS Durumu:
Kurşun / RoHS uyumlu değil
stok adedi:
79398 Pieces
Teslimat süresi:
1-2 days (We have stocks to ship now)
Üretim süresi:
4-8 weeks
Veri Sayfası:
A2F500M3G-1FG484.pdf
soruşturma

Giriş

We can supply A2F500M3G-1FG484, use the request quote form to request A2F500M3G-1FG484 pirce and lead time.XXX.com a professional electronic components distributor. With 3+ Million line items of available electronic components can ship in short lead-time, over 250 thousand part numbers of electronic components in stock for immediately delivery, which may include part number A2F500M3G-1FG484.The price and lead time for A2F500M3G-1FG484 depending on the quantity required, availability and warehouse location.Contact us today and our sales representative will provide you price and delivery on Part# A2F500M3G-1FG484.We look forward to working with you to establish long-term relations of cooperation

Özellikler

Dahili Parça Numarası RO-A2F500M3G-1FG484
Şart Original New
Ülke kökenli Contact us
En İyi İşaretleme email us
Değiştirme See datasheet
Tedarikçi Cihaz Paketi:484-FPBGA (23x23)
hız:100MHz
Dizi:SmartFusion®
RAM Boyutu:64KB
İlköğretim Nitelikler:ProASIC®3 FPGA, 500K Gates, 11520 D-Flip-Flops
Çevre Birimleri:DMA, POR, WDT
paketleme:Tray
Paket / Kutu:484-BGA
Çalışma sıcaklığı:0°C ~ 85°C (TJ)
G / Ç sayısı:MCU - 41, FPGA - 128
Nem Hassasiyeti Seviyesi (MSL):3 (168 Hours)
Kurşunsuz Durum / RoHS Durumu:Contains lead / RoHS non-compliant
flaş Boyutu:512KB
Detaylı Açıklama:ARM® Cortex®-M3 System On Chip (SOC) IC SmartFusion® ProASIC®3 FPGA, 500K Gates, 11520 D-Flip-Flops 512KB 64KB 100MHz 484-FPBGA (23x23)
çekirdekli İşlemci:ARM® Cortex®-M3
Bağlantı:EBI/EMI, Ethernet, I²C, SPI, UART/USART
Temel Parça Numarası:A2F500M3G
Mimari:MCU, FPGA
Email:[email protected]

Hızlı Talep Alıntı

Parça Numarası
miktar
şirket
E-mail
Telefon
Yorumlar

A2F500M3G-1FG484 için ilgili parçalar

görüntü Parça Numarası Üreticiler Açıklama Görünüm
A2F500M3G-1FG484I Image A2F500M3G-1FG484I Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 484-BGA soruşturma
A2F500M3G-1CS288I Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 288-CSP soruşturma
A2F500M3G-1PQ208 Image A2F500M3G-1PQ208 Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 208QFP soruşturma
A2F200M3F-PQG208I Image A2F200M3F-PQG208I Microsemi IC FPGA 200K GATES 256KB 208QFP soruşturma
A2F500M3G-1CSG288 Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 288-CSP soruşturma
A2F200M3F-PQG208 Image A2F200M3F-PQG208 Microsemi IC FPGA 256K FLASH 208QFP soruşturma
A2F500M3G-1FGG256I Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 256-BGA soruşturma
A2F500M3G-1FGG256 Microsemi IC FPGA 512K FLASH 256FBGA soruşturma
A2F500M3G-1FGG256M Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 256FBGA soruşturma
A2F500M3G-1FG256I Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 256-BGA soruşturma
A2F500M3G-1CS288 Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 288-CSP soruşturma
A2F500M3G-1FGG484M Image A2F500M3G-1FGG484M Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 484FBGA soruşturma
A2F500M3G-1FG256M Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 256FBGA soruşturma
A2F500M3G-1FG484M Image A2F500M3G-1FG484M Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 484FBGA soruşturma
A2F500M3G-1FGG484 Image A2F500M3G-1FGG484 Microsemi IC FPGA 512K FLASH 484FBGA soruşturma
A2F200M3F-PQ208I Image A2F200M3F-PQ208I Microsemi IC FPGA 200K GATES 256KB 208QFP soruşturma
A2F500M3G-1CSG288I Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 288-CSP soruşturma
A2F500M3G-1FGG484I Image A2F500M3G-1FGG484I Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 484-BGA soruşturma
A2F500M3G-1PQ208I Image A2F500M3G-1PQ208I Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 208QFP soruşturma
A2F500M3G-1FG256 Microsemi IC FPGA 500K GATES 512KB 256-BGA soruşturma

Latest Haberleri