Gambar |
Nomor bagian |
Produsen |
Deskripsi |
Melihat |
|
BZ013B503ZSB |
AVX Corporation |
CAP 50MF -20% +80% 3.6V SMD |
Penyelidikan |
|
PSHLR-0120C0-002R3 |
Nesscap Co., Ltd |
CAP 120F -10% +20% 2.3V T/H |
Penyelidikan |
|
DGH255Q5R5 |
Illinois Capacitor |
CAPACITOR 2.5F -10% +30% 5.5V TH |
Penyelidikan |
|
EEC-RG0V224VN |
Panasonic |
CAP .22F 3.6V T/H |
Penyelidikan |
|
EDLSD334H5R5C |
Cornell Dubilier Electronics |
CAP 330MF 5.5V THROUGH HOLE |
Penyelidikan |
|
205DER2R5SFQ |
Illinois Capacitor |
CAP 2F -20%, +50% 2.5V T/H |
Penyelidikan |
|
DS-2R5H204T614-H2L |
Elna America |
CAP 200MF -20% +80% 2.5V SMD |
Penyelidikan |
|
EEC-S0HD104V |
Panasonic |
CAP 100MF -20% +80% 5.5V T/H |
Penyelidikan |
|
MAL222591002E3 |
Electro-Films (EFI) / Vishay |
35F 2,7V 16X31 |
Penyelidikan |
|
B1635-2R5226-R |
Bussmann (Eaton) |
CAP 22F -20% +80% 2.5V T/H |
Penyelidikan |
|
BZ015A104ZSB |
AVX Corporation |
CAP 100MF -20% +80% 5.5V SMD |
Penyelidikan |
|
PC10-90 |
Maxwell Technologies, Inc. |
CAP 10F 2.5V THROUGH HOLE |
Penyelidikan |
|
EEC-S5R5H155N |
Panasonic |
CAP 1.5F 5.5V T/H |
Penyelidikan |
|
DBN-5R5D104T |
Elna America |
CAP 100MF -20% +80% 5.5V T/H |
Penyelidikan |
|
EEC-F5R5U104 |
Panasonic |
CAP 100MF -20% +80% 5.5V T/H |
Penyelidikan |
|
JJD0E238MSEFBB |
Nichicon |
CAP 2300F 20% 2.5V CHASSIS MOUNT |
Penyelidikan |
|
BCAP0360 P270 S18 |
Maxwell Technologies, Inc. |
CAP EDLC 360F 0% +20% 2.7V T/H |
Penyelidikan |
|
DZH-2R5D307S57T |
Elna America |
CAP 300F -20% +80% 2.5V T/H |
Penyelidikan |
|
EDLSD224H5R5C |
Cornell Dubilier Electronics |
CAP 220MF 5.5V THROUGH HOLE |
Penyelidikan |
|
EEC-HZ0E106 |
Panasonic |
CAP 10F -20% +40% 2.5V T/H |
Penyelidikan |
|
205DCN5R5M |
Illinois Capacitor |
CAP 2F 20% 5.5 V T/H |
Penyelidikan |
|
PAS1220LA2R3106 |
Taiyo Yuden |
CAP 10F 20% 2.3V THROUGH HOLE |
Penyelidikan |
|
SCMR22C155MRBA0 |
AVX Corporation |
CAPACITOR 1.5F 20% 5V THRU HOLE |
Penyelidikan |
|
JJC0E396MELC |
Nichicon |
CAP 39F 20% 2.5V THROUGH HOLE |
Penyelidikan |
|
EEC-A0EL106 |
Panasonic |
CAP 10F -20% +80% 2.5V T/H |
Penyelidikan |
|
SCMR14F474MSBA0 |
AVX Corporation |
CAPACITOR 470MF 5.5V T/H |
Penyelidikan |
|
TV1860-3R0107-R |
Bussmann (Eaton) |
CAP, 3.0V, 100F |
Penyelidikan |
|
JJD0E957MSECBN |
Nichicon |
CAP 950F 20% 2.5V CHASSIS MOUNT |
Penyelidikan |
|
KR-5R5H104-R-T |
Bussmann (Eaton) |
CAP 100MF -20% +80% 5.5V T/H |
Penyelidikan |
|
506DCR2R3SKV |
Illinois Capacitor |
CAP 50F -20%, +50% 2.3V T/H |
Penyelidikan |
|
SCCY1AB857PLBLE |
AVX Corporation |
CAPACITOR 850F 2.7V T/H |
Penyelidikan |
|
SCCY1KB707PLBLE |
AVX Corporation |
CAPACITOR 700F 2.7V T/H |
Penyelidikan |
|
EEC-HW0D226 |
Panasonic |
CAP 22F -20% +40% 2.3V T/H |
Penyelidikan |
|
2.5DMB50M18X40 |
Rubycon |
CAP 50F 20% 2.5V THROUGH HOLE |
Penyelidikan |
|
ESHSR-0100C0-002R7 |
Nesscap Co., Ltd |
CAP 100F -10% +20% 2.7V T/H |
Penyelidikan |
|
JJL0E857MSEDBN |
Nichicon |
CAP 850F 2.5V 20% CHASSIS MOUNT |
Penyelidikan |
|
ESHSR-0003C0-002R7 |
Nesscap Co., Ltd |
CAP 3F -10% +20% 2.7V T/H |
Penyelidikan |
|
KR-5R5C105-R |
Bussmann (Eaton) |
CAP 1F -20% +80% 5.5V T/H |
Penyelidikan |
|
DCK-3R3E224U-E |
Elna America |
CAP 220MF -20% +80% 3.3V SMD |
Penyelidikan |
|
PAS409SR-VE5 |
Taiyo Yuden |
CAPACITOR 40MF 2.5V COIN |
Penyelidikan |
|
MAL219691262E3 |
Electro-Films (EFI) / Vishay |
CAP ALUM 15F 2.8V SNAP |
Penyelidikan |
|
DMF4B5R5G105M3DTA0 |
Murata Electronics |
CAP SUPER 1F 5.5V 3-SMD |
Penyelidikan |
|
EEC-S0HD334V |
Panasonic |
CAP 330MF -20% +80% 5.5V T/H |
Penyelidikan |
|
XH414HG-IV01E |
Seiko Instruments, Inc. |
CAP 80MF 3.3V SURFACE MOUNT |
Penyelidikan |
|
EDLSG474V5R5C |
Cornell Dubilier Electronics |
CAP 470MF 5.5V THROUGH HOLE |
Penyelidikan |
|
CDLC302P2R7LR |
Cornell Dubilier Electronics |
CAP 3000F 0% +10% 2.7V CHAS MNT |
Penyelidikan |
|
PAS1020LA2R3475 |
Taiyo Yuden |
CAP 4.7F 20% 2.3V THROUGH HOLE |
Penyelidikan |
|
SCMR14C474MSBA0 |
AVX Corporation |
CAPACITOR 470MF 20% 5V T/H |
Penyelidikan |
|
B1860-2R5107-R |
Bussmann (Eaton) |
CAP 100F -20% +80% 2.5V T/H |
Penyelidikan |
|
JUWT1475MPD |
Nichicon |
CAP 4.7F 20% 2.7V THROUGH HOLE |
Penyelidikan |